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X射線電鍍膜厚分析儀 高性價比上照式光譜測厚儀，對各類鍍層厚度分析的同時可對電鍍液進行分析，適用于各種超大件、異形凹槽件、密集型多點測試或自動逐個檢測大量的小部件。鍍層金屬膜厚儀XD系列

電鍍膜厚測試設(shè)備 全新下照式設(shè)計、性價比高、適用性強，輕松快速解決各種平面件、異形件及電鍍液的檢測，且能自動判定測試結(jié)果。

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